Atomic force microscopy ( AFM ) or scanning force microscopy ( SFM ) is a very-high-resolution type of scanning probe microscopy (SPM), with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit. Overview Atomic for...
장비분야 : 표면분석, 한글기기명 : Atomic Force Microscope(AFM), 영문기기명 : Atomic Force Microscope(AFM), 모델명 : NX-10, 제조사 : Park Systems, 사용구분 : 직접사용, 분석의뢰(시간), 설치장소 : 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 B121호, 담당자 : 안유진 / 02-2123-6979 / *********@******.**.**
기술명 : AFM(Atomic Force Microscope)을 이용한 표면 특성 분석, 요약 : ㆍ 분해능: <0.15 nm (<0.02 nm in low voltage Topography mode) ㆍ 100 μm × 100 μm 범위 이내의 AFM 분석 ㆍ Topograpy 외 특수모드를 이용한 분석 ( I-AFM, MFM, EFM, LFM, FMM 등), 결과 : ㆍ Tophography Image 측정 (Non-contact, Contact, Tapping Mode) ㆍ Phase Image 측정 ㆍ Conductive-AFM 측정, 활동분야 : ㆍ 샘플 표면 조도 측정 ㆍ 샘플 단차 측정 ㆍ 그 외 특...
원자힘현미경(AFM, Atomic Force Microscope)은 주사탐침현미경(SPM, Scanning Probe Microscope)의 일종으로 미세한 탐침을 시료 표면에 근접하거나 접촉할 때 탐침과 표면 간에 작용하는 상호 작용력을 측정함으로써 시료 표면의 이미지를 얻는 고해상도 표면 측정 장비이다. AFM은 특히 탐침과 시료 사이의 원자간의 인력과 척력을 이용하기 때문에 시료의 전도성과 상관없이 표면의 형상을 관찰...
OVERVIEW ; 원자현미경을 활용해 샘플의 Topography, Morphology를 보며 다양한 기계적 특성 (접착, 강성, 마찰 등) 전기적 특성 (정전 용량, 정전기력, 일함수, 전류 분포도) 등을 연구할 수 있습니다. SEM,TEM과는 다르게 시료의 전처리가 필요 없어 신속한 측정이 가능하며 Bio, Material, Polymer 등 다양한 분야에서 활용 가능합니다.
Bruker's versatile atomic force microscopes deliver the high-resolution data scientists need to discover, understand, and publish in evolving subjects of materials science
English Noun atomic force microscope ( plural atomic force microscopes ) ( physics ) A device... on the very fine tip of a wire moved over the surface Related terms atomic force microscopy AFM
AFM은 팁과 시료표면의 원자 사이에 작용하는 반데르발스 힘을 검출하여 시료의 표면을 스캔합니다. Cantilever의 팁 끝에 레이저를 반사시켜 반사되는 레이저의 위치를 이용하여 이미지를 그려냅니다. 분해능은 팁 끝의 두께(나노미터 크기)에 따라 달라지고, 원자 수준까지 볼 수 있습니다. AFM은 일반적으로 시료와 팁 간의 접촉유뮤에 따라서 비접촉 모드, 접촉 모드 두 가지 방법...
원리 및 기능 ; 탐침과 시료간에 작용하는 힘을 이용하여 시료 표면를 측정하는 현미경이다. 미세한 움직임을 위해 피에조라는 물질을 사용한 스캐너를 이용한다. 이로 인해 스캐너의 크기에 따라 최소 단위 0.01nm의 분해능을 가진 움직임을 실현할 수 있다. 일반적으로 3축 데이터를 측정하여 이미지를 획득하고 표면 거칠기를 분석하는데 이용되고 있다.
[AFM 정의] AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로, 시료의 표면을 스캔하여 분자나 원자 단위까지 해상도를 높여 관찰하는 분석기기입니다. AFM은 팁과 시료 표면의 원자 간 반데르발스 힘을 검출하여 시료의 표면을 스캔합니다. Cantilever의 팁 끝에 레이저를 반사시켜 반사되는 레이저의 위치를 이용하여 이미지를 그려냅니다...